公司介绍：

杭州广立微电子股份有限公司是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商，公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术，是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、电路IP、WAT电性测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的整套解决方案，在集成电路设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升，成功案例覆盖集成电路180～3nm各先进工艺节点。

产品介绍：广立微可寻址测试芯片自动化设计软件系统 

该系统采用了自主研发3D 绕线技术，可内置多种可寻址IP，其超高密度阵列（Dense Array）技术可实现10mm²一百万个待测器件(DUT)，达到每秒10K样本量的测量速率，满足先进工艺下百万分率、甚至十亿分率的异常点检测的需求，具有面积利用率高、版图设计速度快等特点，广泛应用于集成电路芯片设计、集成电路先进工艺节点开发等领域。

广立微可寻址测试芯片自动化设计软件系统ATCompiler提供了完整的大型可寻址及划片槽内可寻址测试芯片及超高密度测试芯片的设计解决方案。可寻址技术是一种优化的测试芯片设计方法，可寻址测试芯片既满足了集成电路工艺节点的不断推进下对测试芯片面积的更高要求，同时保证了高测量精度的实验设计要求。通过可寻址测试芯片设计平台及其内置的可寻址测试芯片 IP，客户可以实现版图自动化生成、全芯片仿真和验证、同一平台下的设计文档和测试程序的自动生成等功能。在可寻址创新研发基础上公司还创新研发了国内外首创的超高密度测试芯片设计及快速测试技术，实现了单个测试芯片模块上容纳上百万个待测器件。同时结合可寻址测试与片上测试测试探制技术，开发了新一代高密度良率阵列技术（High Density Yield Array），并成功部署在多个工艺研发项目中。

产品性能

该产品的主要性能与指标如下：

基于参数化单元的批量单元版图自动化生成；

支持第三方单元版图导入；

自动布局布线；支持顶层版图布局整合；支持多层次的连线检查；

可寻址测试芯片较普通测试芯片器件密度实现10倍以上的提升，其测试效率也实现了10倍以上的提升；

采用片内控制实现设计密度与测试速度突破；有效识别包括14nm及以下FinFET的先进工艺中的ppm（百万分率）/ppb（十亿分率）级缺陷；

超高密度测试芯片中10mm2的测试芯片中可容纳百万级的DUT（待测器件）数量，通过测试芯片设计工具实现自动化设计；

与公司快速测试机配合，可以快速获得产品上的电性测试结构，高密测试阵列技术测试速度最高每秒钟测试4,000个点，5分钟内可以完成1百万个器件的I-V曲线测试；

内置DRC的无差错设计；支持LVS自动验证；

自动生成版图相关设计文档；自动生成测试相关文档；

支持FinFET先进工艺版图设计。

价格竞争力

广立微可寻址测试芯片自动化设计软件系统对标美国PDF Solutions的CV 系统，该公司的产品不以授权license作为最终销售，仅作为其技术服务的一部分，因此目前市场上并没有类型的产品单独销售存在。

技术创新

广立微可寻址测试芯片自动化设计软件系统提供了完整的大型可寻址及划片槽内可寻址测试芯片及超高密度测试芯片的设计解决方案，包括基于公司电路 IP 的外围电路快速设计、基本单元版图批量生成、模块级版图自动布局布线、最终版图布局整合、全芯片仿真和验证以及设计文档和测试程序的自动生成等功能，

其主要创新点如下：

1. 自动化设计自动绕线技术

a．晶体管自动引脚提取及绕线技术

该技术通过识别每个目标器件已有的将源极、漏极或者栅极连接至第一层金属层M0的通孔，并获取上述通孔的位置信息存储作为该目标器件的原始通孔位置；对目标器件的版图进行处理，并查找每个目标器件中所有能将源极、漏极或者栅极连接至M0的位置，得到每个目标器件的通孔位置列表，从通孔位置列表的元素中筛选符合该目标器件通孔布局条件的通孔位置；在筛选出来的通孔位置，分别进行相应的通孔布局和布线，完成所有目标器件的晶体管引脚提取和绕线。

该技术能定位整个版图中的目标器件，先将目标器件与其他器件进行隔离，保证测试器件不受周边器件电参数的影响，然后，遍历所有连接引脚的可能位置，并自动、快速定位到最优连接点。同时能批量处理版图中的测试器件，对测试器件进行选择分类和引脚定位，且定位到的是连接引脚的最优点，速度快，效率高，准确度高，且能协同现有软件共同快速处理大批量版图。

b. 基于碰撞检测的3D绕线方法

该技术采用多方向的探索，包括层间的探索，避免了单层绕线产生绕线失败的情况；该技术在探索的过程中对探索节点的周围节点进行碰撞检测，能够及时判断节点是否能够用于绕线；该技术不再局限于固定的绕线轨迹的间隔，能够根据pin的宽度来设置与pin直线连接的绕线的宽度。

c. 基于预绕线的版图自动绕线方法

该技术在全局绕线中，根据元器件、障碍物的位置创建开关盒网格线来划分绕线区域，相较于大小一致的均匀网格，优化了全局绕线的效率；在细节化绕线中，根据开关盒和引脚创建的绕线轨迹来划分稀疏网格，提高了节点路径探索效率，且根据后续待绕线网络中的待绕线引脚来增加相关节点的惩罚值，为后续绕线预留一定的绕线，能很好地解决绕线过程中产生的绕线冲突问题；采用特殊的细节化绕线处理方式，使得绕线算法对绕线顺序的敏感度大幅降低，降低了先绕线完成的网络对后绕线网络的影响。

该绕线技术解决了集成电路行业中多层绕线问题，解决了测试芯片设计过程中所产生的绕线问题，提升测试芯片的设计速度与精确度，推动了集成电路测试芯片技术的发展。

2. 可寻址测试芯片电路IP

该产品的可寻址测试芯片电路IP通过设置寻址电路、时钟电路、开关电路、地址信号焊盘和测量信号焊盘，可以使测试芯片中的测试结构数量不受用于提供地址信号的焊盘数量的限制，仅受到测试芯片面积、测试结构本身尺寸以及实际测试数量需要的限制，同时使与用于提供地址信号的焊盘相连接的探针卡数量减少至两个或三个，可以极大地减少地址信号焊盘所占用的面积，在足够的芯片面积上，测试结构的数量可以任意多个，即测试结构的数量不再受限于焊盘的数量。

该产品的可寻址测试芯片电路IP包括了可寻址环形振荡器测试芯片电路IP、可寻址晶体管测试芯片电路IP、可寻址良率测试芯片电路IP、高密度可寻址测试芯片电路IP等多种类型的可寻址测试芯片电路IP，可以满足不同用户的不同需求，也可以满足不同技术节点的工艺需求，对集成电路先进工艺技术的开发具有非常大的意义。

3. 可寻址测试芯片版图自动生成技术

该产品技术针对可根据测试芯片的不同需求，建立关键参数的尺寸变量，从单一的参数化结构指实实例化大量测试结构的版图，然后模块布局、整合成完整的测试芯片，最后输出GDSII版图。该技术的设计包含设计规则和技术文件的库在软件中，方便解码器的调整及设计，并可以根据客户输入要求运行电路验证。该技术结合了可寻址测试的优点，其测试程序可根据设计信息自动生成，其测试速度快且测试结构精确，其自动化生成技术不仅大大缩短了测试芯片的开发时间，降低了人力成本、避免了人工绘图带来的设计错误，还提高了可寻址测试芯片的可延展性和重复使用力，为快速应对制程变更、工艺节点转移提供了有力保障，大大加快了集成电路先进工艺技术开发进程。

4. 高密度阵列技术

该技术在可寻址技术的基础上，增加了集成片上的控制和协调电路，能够进一步提高设计密度和测试效率，为先进工艺中海量测试要求提供了解决方案（每片晶圆中上亿器件的测试）。在测量方式上，通过片上控制模块和测量设备的协同优化，突破了传统测试芯片的测量瓶颈，大幅度提升了测量速率，有效地控制了测试时间，能够为先进工艺研发和成品率提升提供高效率、高精度的测试芯片解决方案。

客户服务

广立微可寻址测试芯片自动化设计软件系统已在韩国三星电子、华虹集团、华润上华、台湾力晶科技、旺宏电子、南亚科技等各集电路设计、制造客户中得到非常好的应用，可以为客户提供软件工具授权、软件技术开发等服务，也可以结合公司测试硬件产品为客户提供芯片成品率提升的一站式服务，后期转而增购EDA软件工具、测试设备等产品，充分发挥软硬件的协同优势并形成良性发展的经营模式。

应用案例介绍

广立微可寻址测试芯片自动化设计软件系统可应用于集成电路设计与制造领域，近年来在国内外各大知名半导体企业得到了广泛的应用。

海外应用案例

韩国三星电子近年来一直采购我公司的广立微可寻址测试芯片自动化设计软件系统，在其28nm、14nm、7nm、5nm包括现在正在研发的3nm工艺节点开发中均采用了此软件工具。

国内应用案例

华虹集团近年来也一直使用公司的该款产品，并在其多个先进工艺节点的开发量产中得到了成功的应用。

该产品在测试芯片的设计与后期的测试过程中，内置有针对不同工艺节点的良率阵列、参数化阵列和晶体管阵列的可寻址IP，提高测试效率8倍以上；通过电路IP技术及重叠摆放技术，对比常规测试芯片实现面积利用率提高10倍以上，且满足高测量精度的实验设计要求；通过开关电路共享测试接触焊盘，使测试时无需频繁清洗、对准扎针测试，有效提高测试效率1～5倍。同时该软件产品操作界面清晰友好，得到客户的充分肯定。

评分&投票规则：

1. 线上投票/评分时间：2022.8.15-9.14；

2. 奖项揭晓：2022.11.16；

评选结果将于2022年11月16日《第四届硬核中国芯领袖峰会暨2022汽车芯片技术创新与应用论坛》活动现场揭晓，并对获奖企业进行现场颁奖表彰；

3. 评分/投票规则：

产品奖：采用评分制，您可以为所有参评产品评分，不可重复为同一产品打分；

企业奖：采用投票制，您可以为所有参评企业投票，不可重复为同一企业投票；

团队奖：采用投票制，您可以为所有参评团队投票，不可重复为同一团队投票；

项目奖：采用投票制，您可以为所有参评项目投票，不可重复为同一项目投票；

4. 抽奖规则：每次投票/评分后，可参与1次抽奖；

5. 兑奖方式：请正确填写您的个人信息，中奖后，请添加工作人员完成兑奖，实物奖品将于活动结束后寄出！

6. 温馨提示：未正确填写个人信息，中奖记录做作废处理。

奖品由贸泽电子独家赞助提供：

贸泽电子(Mouser Electronics)是全球授权半导体和电子元器件分销商，致力于以高效的方式向电子设计工程师和采购推广新一代产品和新技术， 全面支持研发阶段的采购。Mouser.cn一个芯片也可出货，新一代产品信息和技术内容每日更新，可在线搜寻超过 1200 家品牌制造商的 3100 多万种产品，其中 680 多万种产品可直接在线订购，产品涵盖的应用领域包括工业、机器人技术、物联网、新能源、汽车电子等。想深入了解贸泽电子， 请访问：http://www.mouser.cn